x-射线荧光分析仪
利用某些现代仪器对贵金属饰品的成色进行无损检测被认为是比较理想的方法，因为它具有不破坏样品、无污染、快速和准确的特点，同时又能提供样品中多种杂质元素及其含量数据。例如，借助于黄金首饰标样，x-射线荧光光谱法(XRF)广泛用于饰品的组成和元素含量的测定，并且已被制定成国家标准检测方法。然而这一方法的测定结果仍受到饰品表面的光滑度、形状、大小的影响以及因样品照射位置、面积的差异导致主、次元素荧光强度不同程度的损失，于是有不少改进的测定方法报道，例如无标样的XRFA方法、XRF-密度校正法、XRF透空照射数学校正法和XRF分析互标法等等，从而在一定程度上提高了方法的检测精度和扩大了方法的适用范围。在X-射线荧光光谱法中，利用能量色散X射线荧光光谱技术近年来在探测器的分辨率、信号处理系统和数据处理软件等方面都取得了重要进展，用于金饰品的检测与常用的波长色散XRFA相比，除了快速方便之外，还具有直观、运行费用低和维护方便的特点，同样是可供选择的无损分析方法。
除了XRFA之外，电子探针法也用作贵金饰品的无损快速测定，而且同样被制定成国家检测标准。
到目前为止，已经制定的利用X-射线荧光光谱法和电子探针法检测金饰品的国家标准方法分别有：
GB/T 18043-2000 贵金属首饰含量的无损检测方法X-射线荧光光谱法；
GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法；
GB/T 17364-1998 黄金制品中金含量的无损定量分析方法(规定了采用密度法结合电子探针分析或X-射线荧光分析、二次离子质谱分析来进行黄金制品中金含量的无损定量测定)；
GB/T 17363-1998 黄金制品的电子探针定量测定方法；
GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法。
然而，上述这些仪器分析均属于表面分析技术，况且在电子探针分析方法中高速电子的激发深度比X-荧光还要小得多，对于包裹层厚的金饰品及形状复杂且易产生较大形状效应的金饰品的分析，往往都产生较大误差或出现差错，因此，将这些分析方法与密度法测量相结合的综合技术是金饰品无损分析的最好选择。